随着新时代的到来，家电已经不仅仅是一种家用电器，而是家庭智能化的载体，全屋智能时代已经临近。设想一下未来理想的家居生活场景：你通过冰箱控制全屋家电，当你在厨房做饭，此时门铃响起，我们通过冰箱就能看到门外面人的一举一动；衣服洗好了，冰箱也会自动提醒你……。这一切的实现都对家电的功能型、可靠性和安全性有了更高的要求，卡伦测控技术能够为您提供全套的环境模拟和老化设备，让您尽享智能时代。
| 检测对象 | 试验项目 | 试验标准 | 解决方案 （可点击对应产品查看详情） |
| 功率半导体器件 | 温度循环 TC | JESD22-A104 | 两箱冷热冲击试验箱 |
| 低温存储试验 LTSL | JESD22-A11 | 超低温试验箱 |
| 高温存储试验 HTS | GB/T 4937-1995 第 Ⅲ 篇 2 GB/T 2424.19-2005 JESD22-A103C | 高温贮存箱 |
| 稳态湿热试验 STH | JESD22-A101C 5 | 稳态湿热试验箱 |
| 高温高湿偏压 H3TRB | AEC -Q101 JESD22A-101 | H3TRB 高温高湿反偏老化测试系统 |
| 高温反偏 HTRB | JESD22-A108 | HTRB 高温反偏老化测试系统 |
| 高温栅反偏试验 HTGB | JESD22A-108 AEC-Q101 | HTGB 高温栅反偏老化测试系统 |
| 间歇工作寿命 IOL | JESD22-A122 | IOL 间歇寿命老化测试系统 |
| 高压加速寿命试验 PCT | JESD22-A11 | 高压蒸煮寿命箱 PCT |
| 高加速老化试验 HAST | JESD22-A110 | HAST 高加速寿命偏压老化测试系统 |
| 不偏压高速老化 UHAST | JESD22-A110 | UHAST 不偏压高速老化测试系统 |
| 盐雾腐蚀试验 SST | GBT2423.17-93 |
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| IGBT 模块 IPM 模块 SIC | 温度循环 TC | JESD22-A104 | 三箱冷热冲击试验箱 |
| 低温存储试验 LTSL | JESD22-A11 | 超低温试验箱 |
| 高温存储试验 HTS | JESD22-A103C | 高温贮存箱 |
| 稳态湿热试验 STH | JESD22-A101C 5 | 稳态湿热试验箱 |
| 高温高湿偏压 H3TRB | AEC-Q101 JESD22A-101 | H3TRB 高温高湿反偏老化测试系统 |
| 高温反偏 HTRB | JESD22-A108 | HTRB 高温反偏老化测试系统 |
| 高温栅反偏试验 HTGB | JESD22A-108 AEC-Q101 | HTGB 高温栅反偏老化测试系统 |
| 高压加速寿命试验 PCT | JESD22-A11 | 高压蒸煮寿命箱 PCT |
| 高加速老化试验 | JESD22-A110 | HAST 高加速寿命偏压老化测试系统 |
| 分立器件 | 温度循环 TC | GB/T 4937-1995 第 Ⅲ 篇 1.1 GB/T 2423.22-2012 7 JESD22-A104D | 三箱冷热冲击试验箱 |
| 低温存储试验 LTSL | JESD22-A11 | 超低温试验箱 |
| 高温存储试验 HTS | JESD22-A103C | 高温贮存箱 |
| 高温反偏 HTRB | GB/T 15291-1994 6.2 JESD22-A108C | HTRB 高温反偏老化测试系统 |
| 恒温恒湿 (H3TRB) | GB/T 4937-1995 第 Ⅲ 篇 5 GB/T 2423.3-2006 JESD22-A101C | H3TRB 高温高湿反偏老化测试系统 |
| 高加速耐湿及偏压 HAST | GB/T 4937.4-2012 JESD22-A110D | HAST 高加速寿命偏压老化测试系统 |
| 高压蒸煮 (PCT) | JESD22-A102-C | 高压蒸煮寿命箱 PCT |
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